Topsizer激光粒度分析儀

——中國粒度檢測與分析技術的前沿之作

Topsizer激光粒度分析儀是珠海歐美克儀器有限公司經過多年的技術積累后并引進先進技術研發出的一款高性能激光粒度分析儀。它具有量程寬、重復性好、精度高、測試結果真實、自動化程度高等諸多優點，真正站在了當前粒度檢測領域的前沿，代表了中國粒度檢測與分析技術的新高度，是廣受客戶贊譽的國產高性能干濕法激光粒度儀。

一、用途：

既可測量須在液體中分散的樣品，也可測量須在氣體中分散的粉體材料。

二、工作原理：
利用顆粒對光的散射現象，根據散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。通過對光學、機械、電子、計算機等系統的整合和優化，使歐美克激光粒度儀具備重現性良好、分辨能力高、動態測量范圍寬廣、操作簡單方便等優點。
三、先進的光學系統
雙光源技術

Topsizer激光粒度分析儀采用紅藍雙光源設計，紅光主光源為進口氦-氖激光器，波長0.6328μm，并有藍光輔助半導體光源，波長0.466μm，彌補了常規設計散射光角度的盲區，極大地提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力。
穩定的激光光源
進口主光源預熱時間短，輸出單模偏振激光偏振比達500:1以上，光束中TEM00模占比達95%以上，且激光功率始終穩定，功率波動小于0.5%，使得儀器的背景很低而且穩定，大大提高了系統對有效信號的分辨能力。
直線光路設計
Topsizer激光粒度分析儀光路系統采用密閉式直線光路設計，無多余反射光學部件造成的雜散光，亦無粉塵污染干擾，同時采用高精度全鋁合金光學平臺，確保光路穩固可靠。
后傅立葉變換單鏡頭設計
單鏡頭設計，采用透鏡后傅立葉變換結構，突破了傅立葉透鏡的光瞳制約，使散射光接收角不受傅立葉鏡頭口徑限制；而且單鏡頭光路中的折射、反射雜散光干擾被減少，可以進一步降低儀器工作時的背景噪聲至極低水平，提高了儀器測量時的信噪比。
長焦距的傅里葉透鏡
Topsizer激光粒度分析儀選用具有長焦距的傅立葉透鏡，這樣增加了測量窗口到光電探測器平面的距離（也就是有效焦距），從而使光電探測器能夠準確探測到更小散射角度的散射光信號，大大增強了儀器對大顆粒的測試能力，儀器的測量上限達2000μm。
合理分布、高感光度的進口光電探測器
Topsizer激光粒度分析儀光電探測器為特殊定制的進口光電探測器，確保儀器具有較高的分辨力和靈敏度。探測通道數多達98個，由前向、側向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系統，探測角范圍達到0.016-140度。結合藍光散射信號，實現了空間全角度范圍散射光能信號的無縫接收，有效保證顆粒散射光能信息的全面準確獲取。
智能自動對中
智能軟件控制自動對中系統保證了準確的光學對中。智能判斷自動對中既可作為自動測量的一部分，亦可手動在屏幕上單擊鼠標來完成。智能自動對中系統保證了多次測量的重現性。
四、先進的高性能分散進樣系統
濕法進樣系統：標配SCF-108A循環進樣器，采用專利的燈籠頭下壓式水流循環回路設計，配備大功率準確自動控制攪拌電機，可達3500轉/分鐘的同時減少了氣泡和液體飛濺的產生，并具有效率高的分散、清洗、排干能力。內置功率50W的效率高的管路超聲裝置，超聲強度無級連續可調。標配1000毫升樣品池，可根據客戶需求更換容量。
可選SCF-105B全自動循環進樣器，除加樣外的粒度測試操作均可自動控制完成。進樣池采用316L不銹鋼，配置效率50W底部超聲及速度可達4000轉/分鐘的精密攪拌裝置，均無極連續可調。
根據需要可選更多不同特性（例如微量、微量循環、耐腐蝕等）的濕法進樣器。
干法進樣系統：標配DPF-110自動干法進樣器，分散氣壓0.05-0.6MPa無級可調，三重可調下料機構設計，配備壓電陶瓷精密振動控制單元及剛玉瓷分散管，可適應于各種樣品及分散強度的測試要求。內置分散壓傳感器和負壓傳感器，測試條件可追溯。測試窗口全密閉，具有負壓保護裝置，可有效防止窗口和主機的污染。
五、功能強大的分析軟件
軟件設計模塊化，儀器狀態可視化，操作界面人性化，流程界面清晰明了，擁有導航功能
儀器具備智能化自動化操作。能夠自檢和自動識別進樣系統；每次測量前能自動測量電背景，有效減少電噪聲對測試結果的影響。配置自動化進樣器可以進行全自動干濕法粒度測試，手動測樣亦有清晰的導航測試功能。

完善、開放的樣品特性參數數據庫，具有常用樣品折射率和吸收率參數

具備SOP標準操作流程，減少人為因素的影響，使分析測試流程標準化

SOP測量控制界面：

多種數據分析模型，滿足不同特性樣品的測試需要

體積分布、表面積分布、長度分布和數量分布之間可以相互轉換  

多種方式的測量數據導出，方便數據交流

 具有兼容GMP附件《計算機化系統》要求的軟件解決方案，具備用戶分級、權限管理、數據完整性及可追溯功能。
 

六、良好的測試性能
寬廣的測量范圍
Topsizer的實測范圍為0.02-2000um，從亞微米顆粒到毫米級顆粒均可一次性實現檢測，能滿足粉體行業對顆粒粒度檢測與控制的各種需求。

對大顆粒具有強大測試性能

對納米、亞微米等超細顆粒具備良好識別能力

良好的重復性
Topsizer采用全自動的激光校正系統、自動對中系統，從而確保了激光角度校準的準確度，避免了光路的飄移，確保測試的重復性誤差小于0.5%（標準粒子D50）。

良好的再現性
不同主機或不同進樣器之間具有良好的再現性。

杰出的分辨能力
Topsizer能夠準確測定樣品中顆粒分布的微小變化，準確反映樣品的實際粒度分布，能夠滿足技術研究和質量控制的需要。